Основы структурного анализа химических соединений Порай-Кошиц Михаил Александрович
Основы структурного анализа химических соединений
.djvu 1.73 Mb

Учеб. пособие. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Высш. школа, 1989. - 192 с.: ил.
ISBN 5-06-000074-5
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактометров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. Предназначается для студентов химических специальностей университетов.

Скачать


Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.